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描述:IEC標(biāo)準(zhǔn)PCT 加速老化試驗箱是一種用于模擬電子電器產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下使用時的加速老化過程的測試設(shè)備。其主要作用是通過高溫、高濕和高壓的聯(lián)合環(huán)境加速產(chǎn)品的老化過程,以便于在短時間內(nèi)評估產(chǎn)品的長期可靠性,特別是在高濕度和高溫環(huán)境中使用的電子元器件、封裝材料等的表現(xiàn)。下面詳細(xì)介紹PCT加速老化試驗箱在IEC標(biāo)準(zhǔn)中的應(yīng)用及其關(guān)鍵要求。
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